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Equipements de Burn-In
Déverminage de composants logique, mémoire et de puissance,Equipements avec plusieurs zones de température et de pattern,Equipements dédicacés à un produit et équipements plus standards,Architecture Asic permettant le test par pin,Systèmes fonctionnant à 10Mhz,Générateurs de fonction analogique,Régulation de température pour chaque composant de puissance,Température programmable jusqu'à 150°C,Tensions et courants programmables,Entrées analogiques et numériques, ...