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PRODUITS > TEST




Station de test sous pointes :
Probers MPI :


Les domaines d'applications :

Pour le domaine de la microélectronique de la R & D à la production :

Ils peuvent être configurés pour prendre en charge une grande variété d'applications telles que l'analyse des défaillances, la validation de la conception et de l'ingénierie, la fiabilité au niveau des wafers, les MEMS, la haute puissance, la caractérisation et la modélisation des composants.


Les probers manuels :

Stations de test sous pointes manuelles :

Ces stations manuelles sont conçus pour l'analyse précise des substrats et des wafers jusqu'à 150, 200 et 300 mm.

Applications : DC, RF, HT, ...
Du wafer 50 mm jusqu'à 300 mm avec ou sans support thermique.
Différents micro manipulateurs,
Différents sondes de test et cables de mesure,
Microscopes ou caméras optiques, ...


Les probers semi-automatiques :

Stations de test sous pointes semi-automatiques :

Ces stations semi-automatiques sont conçus pour l'analyse précise des substrats et des wafers jusqu'à 200 ou 300 mm.

Applications : MEMS, High Power, RF et mmW.
Version SE : blindage EMI et étanche à la lumière,
Support chauffants de -60°C jusqu'à +300°C,
Différents micro manipulateurs,
Différents sondes de test et cables de mesure,
Caméras optiques, ...


Les probers automatiques :

Stations de test sous pointes automatiques :

Les stations TS2500 sont utilisés pour le test de production de composants de communication RF et haute puissance.
Les stations TS3500 dispose d'un chargement automatique de wafer.




Télécharger les fiches en cliquant sur les liens ci-dessous:


Les applications :

Toute la gamme :
+33(0)4 90 40 60 90
+33(0)4 90 40 61 05 (FAX)



ZA la Garrigue du Rameyron
84830 Serignan-Du-Comtat
FRANCE
Lun-Ven : 08h30-17h00
microtest@microtest-semi.com

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